抗衰老的預防

　　1。生活要有規律

　　談到生活規律，就是指一天安排要抗衰老形成良好的規律，如起居有常，根據每個人習慣早睡早起，或晚睡早起，以不睡懶覺為好。一日三餐要定時，如早餐6點半，午餐12點，晚餐6點半應相對固定。可根據一年四季適當調整起居飲食時間，也就是中醫所說的“順應四時”。生活有規律可以使人體各個系統功能較為正常，有利於營養的消化吸收，使人有充沛的體力去工作。

　　冬季應該早睡晚起----傳統養生學認為，人生於天地之間，其生命活動就要與大自然的變化保持一致，需要根據四季氣候變化的規律而改變自己的日常生活規律，以順應自然，這就是“天人相應”的思想。

　　2。飲食要合理

　　隨著人們生活水平的提高，物質極大豐富，工作、社會交往頻繁，一些人外出就餐機會增多，這樣極易造成飲食的不合理。如暴飲暴食、食無定時、食無節制、挑食偏食，日久就會造成營養過盛，或營養素的不均衡，從而出現高血脂、高血壓、糖尿病、肥胖等多種飲食不合理造成的疾病。中醫說，“高粱厚味，足生大疔”，說的就是多食肥甘厚味，可使人生瘡長疔。過量飲酒可造成ā脂肪肝及酒精性肝硬化。所以要想飲食合理，最好的辦法就是在家吃飯，因為家裡可根據身體情況做到營養合理，葷素搭配，食量適度。人到中年後，要多吃蔬菜、水果、低脂肪。這樣可以預防心腦血管疾病或延遲一些中老年性疾病的發生。

　　3。堅持適當運動

　　生命在於運動，大家都明白這個道理。但如何運動，運動量多大為宜，卻不是每個人都能科學把握的。我認為最好的運動是散步，這是大多數人都容肝功能不好易做到、容易堅持的。可根據每個人的體質等因素選擇步行的長度，一般來講，路程以3～5公裡為宜。晨起或晚飯後均可進行。散步是有氧運動，好處很多：有助於消化系統，對慢性精神不好胃炎可起輔助治療作用；防止腿腳的退化；提高心肺功能；降低血壓；還可以使人精力充沛、提高工作效率、改善睡眠質量等。

精神不好怎麼辦

　　看環境。你所處的環境如果有壓抑，或者是不痛苦，悲傷等精神不好，則會導致你精神狀態不好。建議你換一個環境，改善環境，就會變換一種心情。

　　看壓力。你的工作壓力大，或者是精神壓力過大，也會導致其出現精神不好的狀態，在這裡，建議你可以尋找一些釋放壓肝功能不好力的方法，例如，運動，音樂。

　　看情緒。情緒導致精神不好，是非常關鍵的。例如，你的情緒處在抑郁，或者是郁悶或者是悲傷中，就會導致精神不好，建議你陽光抗衰老快樂積極向上。

　　看睡眠。人的睡眠質量不好，也會導致其出現精神狀態不好。所以，要保持一個好的精神狀態，就要促進你的睡眠的質量。

　　哭泣一下。如果你的精神狀態真不好，那麼，肯定有一些需要你宣泄出來的東西，不妨好好地哭一聲，讓眼淚把所有的不快都衝走。

　　運動一下。運動也可以幫助你改善你的精神狀態的，這樣，就在運動出一身臭汗後，再達到一個好的效果，則會促進你更好地達到身體的健康，精神好。

　　傾訴一下。當然了，如果你能有一個可以傾聽你講話的人，就更好了，把這些郁悶或者是不快全講給這個人聽，人把這些說出來，會精神狀態好很多。

肝功能異常的病因

　　1。感染

　　寄生蟲(血吸蟲、華枝睪吸蟲、阿米巴)、鉤肝功能不好端螺旋體、細菌、病毒均可造成肝髒損害。其中尤以病毒最常見(如病毒性肝炎)。

　　2。化學藥品中毒

　　如四氯化碳、氯仿、磷、銻、砷劑等，往往可破壞肝細胞的酶系統，引起代謝障礙，或使氧化磷酸化過程受到抑制，導致肝細胞變性壞死；有些藥物，如氯丙嗪、對氨柳酸、某些碘胺藥物和抗菌素(如四環素)，即使治療劑量就可以引起少數人的肝髒損害，這可能與過敏有關。

　　3。免疫功能異常

　　肝病可以引起免疫反應異常，免疫反應異常又是引起肝髒損害的重要原因之一。例如乙型肝炎病毒引起的體液免疫和細胞免疫都能損害肝細胞；乙型肝炎病毒的表面抗原、核心抗原、e抗原等能結合到肝細胞表面，改變肝細胞膜的抗原性，引起自身免疫。又如原發性膽汁性肝硬化，病人血內有多種抗體(抗小膽管抗體、抗線粒體抗體、抗平滑肌抗體、抗核抗體等)，也可能是一種自身免疫性疾病。

　　4。營養不足

　　缺乏膽堿、甲硫氨酸時，可以引起肝脂肪性變。這是因為肝內脂肪的運輸須先轉變為磷脂(主要為卵磷脂)，而膽堿是卵磷脂的必需組成部分。甲硫氨酸供給合成膽堿的甲基精神不好。當這些物質缺乏時，脂肪從肝中移除受阻，造成肝的脂肪變性。

　　5。膽道阻塞

　　膽道阻塞(如結石、腫瘤、蛔蟲等)使膽汁淤積，如時間過長，可因滯留的膽汁對肝細胞的損害作用和肝內擴張的膽管對血竇抗衰老壓迫造成肝缺血，而引起肝細胞變性和壞死。

功率計的產品應用

　　光功率測量

　　用於測量絕對光交流功率計功率或通過一段光纖的光功率相對損耗。在光纖系統中，測量光功率是最基本的，非常像電子學中的萬用表。在光纖測量中，光功率計是重負荷常用表。通過測量發射端機或光網絡的絕對功率，一台光功率計就能夠評價光端設備的性能。用光功率計與穩定光源組合使用，則能夠測量連接損耗、檢驗連續性，並幫助評估光纖鏈路傳輸質量。 針對用戶的具體應用，LCR測試儀要選擇適合的光功率計，應該關注以下各點：

　　1、選擇最優的探頭類型和接口類型

　　2、評價校准精度和制造校准程序，與你的光纖和接頭要求範圍相匹配。

　　3、確定這些型號與你的測量範安規測試儀圍和顯示分辨率相一數位電錶致。

　　4、具備直接插入損耗測量的 dB功能。

　　電氣試驗

　　變頻功率分析儀適用於電力推進、電機、風機、水泵、風力發電、軌道交通、電動汽車、變頻器、特種變壓器、熒光燈、LED照明等領域的產品檢試驗、能效評測及電能質量分析。

安規測試儀知識

　　1、 何謂耐壓測試?

　　耐壓測試是最常見的安規數位電錶測試之一，常見的dielectric withstand、high potential、hipot test都是指耐壓測試。耐壓測試的主要目的測試DUT(Device under Test)的絕緣能力。故當設備在運LCR測試儀作時，對測試點施以一高壓，測試是否有絕緣破壞(Breakdown)或電氣閃絡(Flashover/ARC)發生。

　　2 、在安規中絕緣有幾種類型?

　　絕緣類型分為四種：基本絕緣(Basic)、輔助絕緣(Supplementary)、雙重絕緣(Double)以及加強絕緣(Reinforced)。由於產品內部可能因灰塵過多、潮濕或是其他原因導致沿面放電，因此也須以耐壓測試判斷產品內部電路設計是否有沿面距離或絕緣不足等問題。

　　3 、在AC耐壓測試時，為何需要real current 的判斷?

　　AC輸出總電流(total current)可能因部份內部容抗而造成與真實測試安規測試儀電流(real current)之間的差異。電流在輸出時，若受到較大容抗時，反應電流(reactive)會較大，而使得真實測試電流相對變小。若無法准確測量輸出電流與加以補償，會造成測試上的盲點。

　　4 、在DC耐壓測試時，為何需要緩升時間?

　　DC耐壓測試通常會需要加上緩升時間以及放電時間，因為大多的DUT具有電容性而會導致充電電流產生。為了使充電變位電流(charge current)穩定，需要緩升時間來緩衝，才不會因充電電流而導致漏電流過高，進而判斷為不良品(FAI交流功率計L)。

　　5 、在做耐壓測試時，為何需要緩降時間?

　　耐壓測試會使DUT充電，因此在耐壓測試結束時須一段時間來進行放電，優良的耐壓測試設備會將放電時間減至最少，並且在未達放電標准前會明顯標示危險警告，以防止測試人員不當接觸而受到電氣傷害。

精密lcr測試儀功能知識

　　1。 儀器前面板 　1) 電源開關 　2) lcd顯示器：顯示測量結果，測量條件，軟鍵標記和其他相關信息 　3) 軟鍵：共有5個，用來選擇控制功能和參量。 　4) 菜單鍵：共有3個菜單選擇鍵，安規測試儀用來選擇儀器功能 　5) 光標鍵：用來移動光標

　　6) 數據輸入鍵：共有14個鍵，即數字鍵0-9，一個小數點鍵，一個“負號”鍵，一個確認鍵和一個清LCR測試儀除鍵，按確認鍵將結束數據輸入，按清除鍵將清除輸入數據的最後一位。 　7) 數位電錶gpib狀態指示：gpib狀態指示包括遠控，講，聽和服務請求。 　8) 本地鍵：按此鍵可以使儀器回到本地狀態。 　9) 觸發鍵：當儀器設置為人工觸發時，按此鍵開始觸發。 　10)直流偏置鍵。 　11)測量端子：按四個端子接測量夾具。

　　2。 顯示 　1) 顯示頁格式區：本區確定當前顯示的是哪一頁，共有三種選擇，即測量顯示，測量設置，系統設置。 　2) 系統菜單區：本區總是位於顯示器的右上角(在儀器自檢時除外)。當光標位於”系統菜單區“時，在顯示頁末出現的那些功能(如存儲/調用，鍵盤鎖定，固定小數點，分組計數，系統復位，清除頁設置)被激活。 　3) 注釋區：本區用來顯示注釋信息。

　　4) 軟鍵區：本區顯示的各個功能可以用顯示器右邊的五個“軟鍵”來選擇。 　5) 測量條件/測量結果區：本區用來顯示測量條件和測量結果。 　6) 輸入值顯示區：當適用面板上的數據輸入交流功率計進行數據輸入時，所輸入的值在此顯示出來。 　7) 系統信息顯示區：本區顯示系統的有關信息。

lcr測試儀的測試原理

　　LCR測試儀能准確並穩定地測定各種各樣的元件參數，主LCR測試儀要是用來測試電感、電容、電阻的測試儀。它具有功能直接、操作簡便等特點，能以較低的預算來滿足生產線質量保證、進貨檢驗、電子維修業對器件的測試要求。

　　測試原理

　　Vx與Vr均是矢量電壓表，Rr是理想電阻。自平衡電橋的意思是：當DUT(Device Under Test)接入電路時，放大器的負反饋配置自動使得OP輸入端虛地。Vx安規測試儀准確測定DUT兩端電壓(DUT的Low電位是0)，Vr與Rr測得DUT電流Ix，由此可計算Zx。

　　HP4275的測試端Hp，Hc，Lp，L數位電錶c(下標c代表current， 下標p代表Potentail)，Guard(接地)的配置可導致測試的誤差的差異。

　　提高精度的方法是: 1，Hp，Lp，Hc，Lc盡量接近DUT； 2，減小測試電流Ix的回路面積&磁通量(關鍵是分析Ix交流功率計，要配合使用Guard與Cable最小化回路面積)；3，使用Gurard與Cable構建地平面中斷信號線間的電場連接，雖然會增加信號線的對地電容(對地電容不影響測試結果)，但是會減少信號線的互容。

　　Guard與Cable的對地寄生阻抗(Zhg，Zlg) 不影響測試結果，電橋平衡時Zlg的兩端電壓是0，流向Rr的電流不會被Zlg分流，Zhg的分流作用不影響Hp的電壓測量。